日本電子電鏡是六十年代發(fā)展起來的一種精細電子學儀器。使用它可以調查塊狀樣品的外表形狀，然后得出有關樣品立體布局的概念。電子顯微鏡由三局部構成：電子光學體系包括電子槍、磁透鏡和掃描線圈等，它能發(fā)生契合必定需求的電子束；樣品室是電子束與樣品相互效果的場所。為便于獲取效果后生成的各種信號，樣品室的體積容量較大；信號的搜集、處置和顯現(xiàn)體系。
電子顯微鏡中的細電子束在樣品外表作出光柵狀掃描，即從左上方掃向右上方，掃完一行再掃其下相鄰的第二行，直至掃完一幅(或幀)。如此重復運動。這種作掃描運動的電子束，在樣品內的必定區(qū)域內逐點“炮擊”出各種信號。這里所搜集、使用的主要是從塊狀樣品外表“反射”回來的各種信號，包括效果后的局部初始電子(即背散射電子)和初始電子失能所引起的二次激起信號。
日本電子電鏡的二次激起分析如下：
1.低能二次電子；
2.電子-空穴對(電子束感生信號)；
3.陰極熒光；
4.特征X射線；
5.俄歇(Auger)電子。
此外，少數(shù)實驗中也有運用樣品中的吸收電子和透射電子作分析的。當電子束在樣品上掃描時，運用同步掃描技術，使顯像管熒光屏上也有一光點在同步掃描。依托從樣品各點處收集到的有用信息，使熒光屏上相應的光點得到不一樣程度的加亮。這就是電子顯微鏡中所選用的逐點成像原理。
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